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商品編號:55744
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德國BMT WLI LA 白光干涉儀

價    格:詢價

產    地:德國更新時間:2020/4/20 11:50:20

品    牌:BMT型    號:WLI LA

狀    態:正常點擊量:1689

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佰匯興業(北京)科技有限公司

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等     級: (第 12年)

性     質:生產型,貿易型,

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·可測量粗糙或光滑表面
·測量結果不受被測物顏色和材料影響
·幾秒鐘完成測量
·測量面積:14 x 10 mm
·?測量范圍:100 / 150 μm
·橫向分辨率:30 μm
·垂向分辨率:31 nm
·高數字孔徑

產品參數

適用于較大面積平面的表面結構形狀測量
測量頭

·光源 LED
·測量范圍 100/150μm
·垂直分辨率 3 1nm
·橫向分辨率 30μm
·測量面積 13.9 x 10.4[mm]

產品介紹

WLI LA 白光干涉儀

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本儀器比以往的顯微鏡可測面積大得多,使用者需在大測量面積和大數值孔徑之間進行適當平衡。數值孔徑決定了橫向分辨率和可測量的微觀/宏觀表面傾斜程度。選擇大約1.5 cm2的測量面積代表了最適宜的平衡點。干涉儀可測量大的測量面積使其用來主要進行平面度測量,而對于微觀結構則會獲取太多無效數據。本儀器采用數字式相機,用戶可以選定動態范圍8-14位的測量范圍,和各種幫助操作者的輔助功能。

應用:
·用于表面形狀、平面度和輪廓測量

特點:
·可測量粗糙或光滑表面
·測量結果不受被測物顏色和材料影響
·幾秒鐘完成測量
·測量面積:14 x 10 mm
·?測量范圍:100 / 150 μm
·橫向分辨率:30 μm
·垂向分辨率:31 nm
·高數字孔徑
優勢:
·快速分析表面構造
·平面度評估
·自動數據采集和處理
·大的測量面積

技術參數:
適用于較大面積平面的表面結構形狀測量
測量頭
·光源 LED
·測量范圍 100/150μm
·垂直分辨率 3 1nm
·橫向分辨率 30μm
·測量面積 13.9 x 10.4[mm]


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